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上海儀電物光顯微熔點測定儀價格表

點擊: 次 時間:2016-04-05 17:35

產品型號

主要技術參數

市場價格(元)

優惠價格(元)

 

 

SGW X-4A

熔點測量範圍:室溫至320℃

測量重複性:

±1℃ (在<200℃ 時),±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時)

溫度顯示最小值:0.1℃

熔點觀察方式 :單目顯微鏡

光學放大倍數 :40×

 

 

4800

 

 

3840

 

 

SGW X-4

熔點測量範圍:室溫至320℃

測量重複性:

±1℃ (在<200℃ 時), 

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時)

溫度顯示最小值: 1℃

熔點觀察方式: 單目顯微鏡

光學放大倍數 :40×

 

 

3800

 

 

3040

 

 

SGW X-4B

熔點測量範圍:室溫至320℃ 

測量重複性:

±1℃ (在<200℃ 時)

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時) 

溫度顯示最小值:0.1℃

熔點觀察方式: 雙目顯微鏡 

光學放大倍數: 40-100X

 

 

5800

 

 

4640




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